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SXJS-V全自动抗干扰介质损耗测试仪测量方式及原理
时间:2021-05-26      阅读:226

异频抗干扰CVT介质损耗测试仪采用变频电源技术,利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算,采用数字波形分析和内置电桥自校准等技术,可变频调压电源,升压变压器和SF6 高稳定度标准电容器。测试高压源由仪器内部的逆变器产生,经变压器升压后用于被试品测试。频率可变为50Hz、47.5 Hz\52.5 Hz、45Hz\55Hz、60Hz、57.5 Hz\62.5Hz、55Hz\65Hz,数字陷波技术,避开了工频电场对测试的干扰,从根本上解决了强电场干扰下准确测量的难题。实现高精度介损测量,正/反接线的准确度和稳定性一致;支持四通道正接法做介损。

按被测试品是否接地分两种测量方式,即正接线测量方式和反接线测量方式。两种测量方式的原理如图1所示:

图片1.png

图1

    在高压电源的10kV侧,高压分两路,一路给机内标准电容CN,此电容介损非常小,可以认为介损为零,即为纯容性电流,此电流ICN 可做为容性电流基准。在Cx试品一侧,试品电流Icx通过采样电阻R采入机内,此Icx可分解成水平分量和垂直分量见图2所示,通过计算水平分量与垂直分量的比值即可得到tgδ值。

    在图1(a)中Cx为非接地试品,试品电流Icx从试品末端进入采样电阻R,得到全电流值,在图1(b)中Cx为接地试品,机内Cx端直接接地,电流Icx从试品高压端到机内采样电阻取得全电流值。
图片2.png

图2

 
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